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  • UV762雙光束紫外可見分光光度計

    產(chǎn)品名稱:UV762雙光束紫外可見分光光度計
    產(chǎn)品型號:UV762
    產(chǎn)品產(chǎn)地:上海
    雙光束紫外可見分光光度計UV762功能特點:
    • 關鍵元件采用進口元件,全新獨特的光學系統(tǒng)設計,使儀器的主機具有優(yōu)良的光學性能和測光性能,雜散光低,測光精確度和穩(wěn)定可靠性高。
    • 真正的雙光束測光系統(tǒng),配合先進的電路測控系統(tǒng),使儀器具有較高的可靠性和極低的噪聲。
    • 獨特的氘燈和鎢燈安裝,光源自動切換及自動尋找******位置的設計和工作方式,使用戶操作儀器和維修替換光源更為方便、正確和安全.
    • 采用大屏幕中文窗口(LED)液晶屏顯示,具有良好的人機對話界面.
    • 優(yōu)良的軟件設計和編制,使儀器有較強光譜數(shù)據(jù)處理功能:自動掃描測量光譜,多波長( 1-3λ)測定、動力學測定、1-3次曲線擬合、1-4階導數(shù)光譜、存取顯示打印光譜圖和分析數(shù)據(jù)。
    • 基于Windows平臺開發(fā)的強大軟件,界面友好,功能強大,方便您的存儲輸出,方便辦公,節(jié)省費用。
    雙光束紫外可見分光光度計UV762性能指標:
    • 波長范圍:200nm~1100nm
    • 光譜帶寬:2nm
    • 波長準確度:≤±0.3nm(開機自動校正)
    • 波長重復性:≤0.2nm
    • 透射比準確度:±0.5%(T)
    • 透射比重復性:0.2%(T)
    • 透射比測量范圍:0~200%T
    • 吸光度測量范圍:-0.301~3.000A
    • 雜光:≤0.15%(在220nm處,以NAI測定)
    • 漂移:≤0.004A/H (500nm處)
    • 噪聲:100%線噪聲≤0.15%T;0%線噪聲≤0.1%T
    • 掃描速度:快 中 慢

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